【基礎から応用まで】画像分析法でナノからミクロン粒子を「識別して」「個別に」測定する手法とその応用
12:20-13:05
マルバーン・パナリティカル(スペクトリス)
笹倉 大督氏
【講演概要】
ナノからミクロンオーダーの粒子を測定することは、基礎研究のみでなく、工業分野で各種材料を活用するためには非常に重要です。しかし、多くの場合、材料中の粒子は混合物で存在するため、個別粒子の識別は非常に困難でした。画像解析法は、粒子の個別情報を解析することで真度が高く、他方と比較して多くの情報取得が期待できます。本セミナーでは、NTA法と全自動画像解析法(APIA法)を基軸としてラマン分光法なども統合した手法を用いて粒子を「識別」しつつ解析する手法を提案します。