【新製品 動的光散乱測定装置ゼータサイザーUltra/Pro】多角度DLS法(MADLS)を用いたサブミクロン粒子評価とゼータサイザーナノ用自動測定ユニット、ナノサンプラーのご紹介
13:15-14:00
マルバーン・パナリティカル(スペクトリス)
松尾 亮太郎氏
【講演概要】
①100 nmから1 μmの領域(サブミクロン)では、散乱光強度に角度依存が生じます。この現象により、検出器の角度によっては粒子から発生する散乱光に強弱が現れます。MADLSのアプローチは、この散乱光強度の角度依存を考慮するために、3つの角度(前方・側方・後方)で測定を実施し、得られた3つの自己相関関数を用いて一つの粒子径分布を算出するというものです。今回のセミナーでは、このMADLSの紹介と測定事例を発表します。
②年々、DLSでもハイスループットのニーズが高まってきており、多検体を自動で測定する要望がでてきております。セミナーの残りの時間で、ゼータサイザーナノ用の自動測定ユニット、ナノサンプラーをご紹介させていただきます。